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PI膜测厚仪(聚酰亚胺薄膜测厚仪)

 
品牌: Labthink兰光
单价: 面议
起订: 1
供货总量: 100
发货期限: 自买家付款之日起 2 天内发货
所在地: 山东 济南市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-05-22 03:52
浏览次数: 880
 
公司基本资料信息
详细说明


关键词:测厚仪,薄膜厚度仪,薄膜测厚仪,纸张厚度测定仪,厚度测量仪,厚度计,薄膜厚度测量仪,薄膜厚度检测仪,薄膜厚度测定仪,薄片测厚仪,硅片测厚仪,GB 6672,纸张测厚仪

PI膜测厚仪(聚酰亚胺薄膜测厚仪)采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。


PI膜测厚仪主要技术特征:
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
实时显示测量结果的值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告 

PI膜测厚仪执行标准:
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

PI膜测厚仪技术特征:
测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)
+
测量速度:10 次/min (可调)
测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000 mm
进样速度:0.1~99.9 mm/s
电源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
净重:32kg

PI膜测厚仪仪器配置:
标准配置:主机、标准量块一件
选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

济南兰光咨询电话:0531-85068566  在线咨询QQ:1739638090  兰光网址www.labthink.cn


 


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